臺式X熒光光譜儀之所以能夠?qū)ι钪胁煌匦纬傻母魇礁鳂拥膶w及非導體材料進行分析，是因為它的強大功能，那么你知道X熒光光譜儀在檢測分析時采用了哪些定律呢？
X熒光光譜儀在檢測分析時采用了以下定律：
莫塞萊定律：該定律反映了X射線熒光的波長與元素原子序數(shù)之間的關(guān)系。根據(jù)這一定律，只要測出一系列X射線熒光譜線的波長，在排除了其他譜線的干擾以后即可確定元素的種類。
布拉格定律：這一定律是波長色散型X熒光光譜儀所使用的分光原理，在進行材料檢測分析的時候能夠讓不同元素不同波長的特征X熒光完全分開，使譜線處理工作變得非常簡單，降低儀器檢出限。
比爾-朗伯定律：該定律是反應樣品吸收狀況的定律，涉及到理論X射線熒光相對強度的計算問題。X熒光光譜儀采用這一定律進行檢測分析時，樣品可以被激發(fā)出各種波長的熒光X射線，需要將混合的X射線按波長分開，分別測量不同波長的X射線強度，以進行定性和定量分析。
這些定律在X熒光光譜儀的檢測分析中發(fā)揮著重要的作用。
創(chuàng)想儀器X熒光光譜儀